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无接触单点少子寿命检测测试仪

价格面议
产品/服务无接触单点少子测试仪
主营产品半导体材料,太阳能电站,蓝宝石,维修二手设备等
关键词无检测,无接触少子寿命
面向地区 全国

北京合能阳光新能源技术有限公司

认证
联系人肖先生
手机15910963468
联系地址
网商汇免费会员 第1759

详情描述

产品介绍:
HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的,并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。

 

产品特点

■ 无接触和无损伤测量

■ 可移动扫描头,便于测量

■ 测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

■ 性价比高,极大程度地降低了企业的测试成本

■ 质保期:1年

 

 

推荐工作条件

■ 温度:15-30℃
■ 湿度:10%~80%
■ 大气压:750?30毫米汞柱

 

技术指标

■ 少子寿命测试范围:0.1μs-20ms

■ 测试尺寸:尺寸不限

■ 测试时间:1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)

■ 电阻率范围:>0.1ΩNaN

■ 激光波长:980?30nm,测试功率范围:50-500mw,脉冲宽度调节范围:0.5-60μs

■ 仪器测试精度:?3.5%

■ 工作频率:10GHz?0.5

■ 微波测试单元功率:0.01W?10%

■ 电源:~220V  50Hz    功耗<30W

■ 扫描头尺寸:290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm

■ 扫描头重量:3KG,电器控制单元:1kg

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